English: Min et al. [Min, K. H., Sinclair, R., Park, I. S., Kim, S. T., & Chung, U. I. (2005). Crystallization behaviour of ALD-Ta2O5 thin films: the application of in-situ TEM. Philosophical Magazine, 85(18), 2049–2063. https://doi.org/10.1080/14786430500036546] studied the crystallization of as-deposited amorphous films of thin layered ALD-Ta2O5 at 3 different temperatures - 790, 820, 850 degrees C. Then they fitted the transformation ration with the Avrami (JMAK) equation and obtained different values of the Avrami exponent n - 2.5, 1.9, 1.7. In this plot the time dependence of the tranformation ratio is fitted multiple times to different values of alpha_upper starting always from 0, and the obtained value of n is plotted vs. alpha_upper.
att dela – att kopiera, distribuera och sända verket
att remixa – att skapa bearbetningar
På följande villkor:
erkännande – Du måste ge lämpligt erkännande, ange en länk till licensen och indikera om ändringar har gjorts. Du får göra det på ett lämpligt sätt, men inte på ett sätt som antyder att licensgivaren stödjer dig eller din användning.
dela lika – Om du remixar, transformerar eller bygger vidare på materialet måste du distribuera dina bidrag under samma eller en kompatibel licens som originalet.
Hjälp gärna till att förbättra denna mediafil genom att lägga till en eller fler kategorier, så att den kan bli relaterad med andra mediafiler (hur?) och så blir det enklare att hitta den.
Var vänlig att meddela uppladdaren med:
{{subst:Please link images|File:MFSDS.png}} ~~~~
Bildtexter
Ingen bildtext har definierats
Multiple Fitting of a Single Data Set. The Avrami equation was used to fit multiple times a dataset published by Min et al. in 2005 [11], see the text for the ful reference
Den här filen innehåller extrainformation som troligen lades till av en digitalkamera eller skanner när filen skapades. Om filen har modifierats kan det hända att vissa detaljer inte överensstämmer med den modifierade filen.